д.э.н., проф., академик Российской Академии Естественных Наук (РАЕН)
Генеральный директор Федерального института сертификации и оценки интеллектуальной собственности и бизнеса (ЗАО «СОИС»)
Зам. председателя Комитета по интеллектуальной собственности ТПП РФ
эксперт ВОИС/WIPO, эксперт НЦПИ при Минюсте РФ, эксперт Фонда «Сколково»